Se sugiere un método de simulación para la adquisición de la función de respuesta espectral (SRF) del espectrómetro basada en la función de dispersión puntual (PSF) de Huygens. Teniendo en cuenta los efectos de las aberraciones ópticas y la difracción, el método puede obtener la curva fina de la SRF y el ancho de banda espectral correspondiente a cualquier longitud de onda nominal ya en la fase de diseño. Se propone un monocromador de prisma para ilustrar el procedimiento de simulación. A modo de comparación, también se proporciona un método geométrico de trazado de rayos, con desviaciones de ancho de banda que varían de 5
t 250 nm a 25
t 2400 nm. La comparación posterior con los experimentos realizados muestra que las áreas de los perfiles SRF coinciden en aproximadamente un 1%. Sin embargo, la débil luz de fondo dispersa en el nivel de 10-4 a 10-5 observada por el experimento no pudo ser cubierta por esta simulación. Este método de simulación es una herramienta útil para pronosticar el rendimiento de un espectrómetro mal diseñado.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
Artículo:
Patrón M-Array de un solo disparo basado en luz estructurada codificada para la reconstrucción tridimensional de objetos
Artículo:
Optimización del modelo de inventario de cadena de suministro en dos etapas con intercambio total de información y dos costes de pedidos pendientes mediante el método geométrico-algebraico híbrido
Página web:
Glosario de automatización industrial
Artículo:
Influencia de la corriente de deslizamiento de la hélice en el campo de flujo de la admisión en forma de S
Artículo:
Enfoque de expansión de la dimensión del sistema esclavo para la sincronización robusta de sistemas caóticos con diferencia de fase desconocida