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Este programa fue diseñado debido a que los recubrimientos de multicapas finas se aplican a diversos equipos ópticos, como lentes, monitores de computadores, gafas, entre otros, para controlar la luz reflejada, transmitida y absorbida a longitudes de onda desde los rayos X hasta el infrarrojo lejano. Un efecto del recubrimiento es determinar cómo las capas controlan la interferencia y la luz absorbida. Este programa, cuya última versión a la fecha es de agosto de 2009, permite modelar la respuesta de una superficie con cierto espesor de recubrimiento, cuando luz de una longitud de onda determinada incide en la superficie bajo ciertas condiciones.
Este programa trabaja en el ambiente que se muestra en la siguiente figura, que como se observa, presenta un esquema de la superficie y su ambiente y permite “jugar” con diferentes parámetros como la longitud de onda de la luz, el medio y ángulo incidente, el sustrato, el espesor, entre otros.
Una vez los parámetros han sido seleccionados y al presionar “OK”, el programa presenta las gráficas de respuesta en forma de gráficas y tablas. Por ejemplo, se presentan resultados de reflectancia con respecto a la longitud de onda, o por ejemplo de absorbencia, densidad óptica entre otros.
Para adquirir la versión completa de este programa es necesario comprarlo. Sin embargo, el usuario puede descargar una versión de prueba donde se encuentran diversos ejemplos de aplicación y análisis. Es un programa relativamente sencillo de utilizar, es posible guardar los casos que se trabajen, imprimir, optimizar, etc. En la página web del fabricante también se encuentra un manual acerca del manejo de este programa, junto con otros aspectos de los recubrimientos de capa fina; una descripción más detallada de las características de este programa se encuentran en la sección Summary of TFCalc Features de la página Software Spectra, Inc.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
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