Resumen

Estudiamos la detección distribuida y la fusión en redes de sensores con tasa de fallos en forma de bañera (BSF) de los sensores, que pueden o no enviar datos al Centro de Fusión (FC). La fiabilidad de los dispositivos semiconductores suele representarse mediante la curva de tasa de fallos (denominada "curva en forma de bañera"), que puede dividirse en las tres regiones siguientes: periodo de fallo inicial, periodo de fallo aleatorio y periodo de fallo por desgaste. Teniendo en cuenta la posibilidad de que los sensores averiados sigan funcionando pero en mala situación, no es razonable confiar en los datos de estos sensores. Basándonos en la situación anterior, introducimos nuevas características para los sensores averiados. Cada sensor cuantifica su observación local en un bit de información que se envía a la FC para la fusión global debido a las limitaciones de potencia, comunicación y ancho de banda. Con este modelo de fallo del sensor, se deriva la regla de la prueba de extensión de la razón de verosimilitud logarítmica (ELRT). Por último, se presenta la curva ROC para este modelo. Los resultados de la simulación muestran que la regla ELRT mejora el rendimiento robusto del sistema, en comparación con la regla de fusión tradicional sin tener en cuenta los fallos de los sensores.

• Materias:Matemáticas Análisis Matemático Álgebra Ingeniería Lógica matemática
• Subjects:mathematics Mathematical Analysis Algebra Engineering Mathematical logic
• Palabras claves:sensores, curva de tasa de fallos, periodo inicial de fallos, prueba de razón de verosimilitudes, periodo aleatorio de fallos, modelo de fallos de sensores, regla de fusión tradicional, datos, regla elrt, registro de extensión
• Keywords:sensors, failure rate curve, initial failure period, likelihood ratio test, random failure period, sensor failure model, traditional fusion rule, data, elrt rule, extension log