Resumen

Para comprender a fondo las propiedades de los materiales, la fabricación y la conservación de los artefactos del patrimonio cultural, existe una fuerte necesidad de herramientas de caracterización avanzadas que permitan el análisis a escala nanométrica. Se proponen técnicas de microscopía electrónica de transmisión (TEM) y difracción electrónica (ED), como la tomografía de difracción electrónica de precesión 3D y el mapeo de fase/orientación ASTAR, para estudiar materiales del patrimonio cultural a escala nanométrica. En este trabajo, mostramos cómo la cristalografía electrónica en TEM ayuda a determinar información estructural precisa y distribución de fase/orientación de varios pigmentos en materiales del patrimonio cultural de diversos períodos históricos como ánforas griegas, teselas de vidrio romanas y pinturas murales mayas prehispánicas. Estos métodos basados en TEM pueden ser una alternativa a las técnicas de sincrotrón y pueden permitir distinguir con precisión diferentes fases cristalinas incluso

• Materias:Cemento Microscopia electrónica Extremo radicular Escáner intraoral Fuerza adhesiva
• Subjects:Cement Electron microscopy Root end Intraoral scanner Adhesive strength
• Palabras claves:Propiedades de los materiales; Fabricación; Conservación; Objetos del patrimonio cultural; Cristalografía electrónica; TEM
• Keywords:Material properties; Manufacturing; Conservation; Cultural heritage artefacts; Electron crystallography; TEM