Resumen

Técnicas microanalíticas avanzadas como la microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM), la tomografía por sonda atómica (APT) y la microscopía de rayos X de transmisión basada en sincrotrón (STXM) permiten caracterizar la estructura y composiciones químicas e isotópicas de materiales naturales a escala atómica. La microscopía electrónica de barrido con haz de iones enfocado dual (FIB-SEM) es una herramienta poderosa para la preparación de muestras específicas y el análisis posterior por TEM, APT y STXM con las mayores resoluciones energéticas y espaciales. El FIB-SEM también funciona como una técnica independiente para la tomografía tridimensional (3D). En esta revisión, delinearemos los principios y desafíos al utilizar FIB-SEM para la caracterización avanzada de materiales naturales en las Ciencias de la Tierra y Planetarias. Más específicamente, nuestro objetivo es resaltar las aplicaciones de vanguardia de FIB-SEM utilizando ejemp

• Materias:Modelo esférico Aleaciones Efecto de amortiguación Membranas bioabsorbibles Adhesión de Nanopartículas
• Subjects:Spherical model Alloys Buffering effect Bioabsorbable membranes Nanoparticle adhesion
• Palabras claves:Técnicas microanalíticas; Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución; Tomografía de sonda atómica; Microscopía de rayos X de transmisión de barrido basada en sincrotrón; Microscopía electrónica de barrido de doble haz de iones focalizados; Tomografía tridimensional.
• Keywords:Microanalytical techniques; High-resolution transmission electron microscopy; Atom probe tomography; Synchrotron-based scanning transmission X-ray microscopy; Dual focused ion beam-scanning electron microscopy; Three-dimensional tomography