Resumen

Las células y módulos solares de alta eficiencia presentan un fuerte carácter capacitivo, lo que limita la velocidad de las respuestas transitorias. Por tanto, una medición demasiado rápida de la curva I-V puede introducir un error significativo debido a sus capacitancias internas. En este artículo se analiza el error de la curva I-V de una célula o módulo solar medida en función del tiempo de exploración y del nivel de irradiancia. Se basa en un modelo de célula solar de dos diodos ampliado con dos capacitancias dependientes de la polarización, que modelan la unión, y la capacitancia de difusión. Se presenta y valida un método para determinar todos los parámetros del modelo ampliado a partir de una curva I-V cuasistática y una medición de la caída de tensión en circuito abierto. Se demuestra y confirma la aplicabilidad del modelo ampliado y del método de extracción de parámetros desarrollado a los módulos fotovoltaicos. Se utilizan simulaciones SPICE del modelo ampliado para obtener el error de la curva I-V frente a la dependencia del tiempo de barrido y la histéresis de la curva I-V. Se determina el tiempo de barrido óptimo para la curva I-V y la histéresis. Se aborda la determinación del tiempo de escaneo óptimo y, por último, se revela la influencia del nivel de irradiancia en el tiempo de escaneo de la curva I-V y en el error. El método se aplica, aunque sin limitarse a ello, a tres tipos diferentes de células solares de silicio basadas en obleas.

• Materias:Energía solar Fotoquímica Fotocatálisis Nanoestructuras Biofotónica
• Subjects:Solar energy Photochemistry Photocatalysis Nanostructures Biophotonics
• Palabras claves:error de la curva v, curva v, modelo ampliado, nivel de irradiancia, tiempo de exploración, medición de la caída de tensión del circuito, histéresis de la curva v, medición de la curva v, parámetros del modelo ampliado, célula solar medida
• Keywords:v curve error, v curve, extended model, irradiance level, scan time, circuit voltage decay measurement, v curve hysteresis, v curve measurement, extended model parameters, measured solar cell