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A Systematic Approach for Calculating the Symbol Error Rate for the Entire Range of Eb/N0 above and below the Threshold Point for the CE-OFDM SystemUn enfoque sistemático para calcular la tasa de error de símbolo para toda la gama de Eb/N0 por encima y por debajo del punto de umbral para el sistema CE-OFDM

Resumen

Recientemente se ha analizado el rendimiento de la OFDM de envolvente constante (CE-OFDM) con ruido blanco gaussiano aditivo (AWGN) con ayuda de una expresión aproximada de forma cerrada para la tasa de error de símbolo (SER). Esta expresión se obtuvo suponiendo una elevada relación portadora-ruido (CNR) que, en efecto, linealizaba el demodulador de fase (el demodulador de fase se implementó con una calculadora arctangente) y simplificaba el análisis. Por tanto, esta expresión no es exacta para el rango inferior de CNR. De hecho, ya se observó que existe un punto umbral a partir del cual el resultado SER simulado se desvanece de la expresión obtenida teóricamente. En este trabajo, presentamos un enfoque sistemático para calcular la SER sin suponer el caso de una CNR alta ni utilizar técnicas de linealización. En otras palabras, derivamos la SER para el caso no lineal. Como subproducto, obtenemos una nueva expresión aproximada de forma cerrada para la SER basada en el método integral de Laplace y la expansión de Edgeworth. Los resultados de la simulación indican que los resultados simulados y los obtenidos a partir de la nueva expresión derivada son muy parecidos para todo el rango de la relación de densidad energía/ruido de bits (Eb/N0) por encima y por debajo del punto umbral.

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