En este artículo se propone un modelo de detección automática que adopta la tecnología de reconocimiento de patrones; puede realizar la medición del elemento de la película nanocompuesta. Las características de la matriz de coocurrencia de niveles de gris (GLCM) pueden extraerse de diferentes tipos de imágenes de la morfología de la superficie de la película; después de eso, la reducción de la dimensión de la película puede ser manejada por el análisis de componentes principales (PCA). Así, es posible identificar el elemento de la película según el algoritmo Adaboost M1 de un clasificador fuerte con diez clasificadores de árbol de decisión. El resultado experimental muestra que este modelo es superior a los de SVM (máquina de vectores de apoyo), NN y BayesNet. El método propuesto puede aplicarse ampliamente a la detección automática no sólo del elemento de la película nanocompuesta sino también de otros elementos del material nanocompuesto.
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