Resumen

En este artículo se describe un nuevo método de reconstrucción de imágenes de superresolución basado en el método de ajuste topográfico. La idea principal de este nuevo método es que, en primer lugar, se toma una secuencia de imágenes de baja resolución como observaciones y, a continuación, se establecen ecuaciones de observación para la reconstrucción de imágenes de superresolución. La función gris de la superficie del objeto se puede encontrar utilizando el método de ajuste topográfico a partir de las ecuaciones de observación. El valor del píxel de alta resolución del área correspondiente puede calcularse utilizando la función gris. Los resultados muestran que el algoritmo propuesto converge mucho más rápido que el método convencional de reconstrucción de imágenes de superresolución. Utilizando el nuevo método, la sensación visual de la imagen reconstruida puede mejorarse enormemente en comparación con la del algoritmo iterativo de retroproyección, y su relación señal-ruido máxima también puede mejorarse en casi 1 dB más que el algoritmo de proyección sobre conjuntos convexos. Además, este método puede evitar con éxito los problemas mal planteados en el proceso de reconstrucción.

• Materias:Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Nanomateriales Nanosensores
• Subjects:Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Nanomaterials Nanosensors
• Palabras claves:reconstrucción de imágenes de superresolución, función gris, nuevo método, ecuaciones de observación, método convencional de reconstrucción de imágenes de superresolución, algoritmo iterativo de retroproyección, algoritmo de conjuntos convexos, valor del píxel de resolución, tal nuevo método, método de ajuste topográfico
• Keywords:superresolution image reconstruction, gray function, new method, observation equations, conventional superresolution image reconstruction method, iterative back projection algorithm, convex sets algorithm, resolution pixel value, such new method, surveying adjustment method