Resumen

Se propone un procedimiento de obtención de imágenes por microondas en dos etapas basado en la inversión de la fuente de contraste (CSI) para la determinación de un dieléctrico enterrado junto con la superficie rugosa que se encuentra sobre él. Se ha demostrado previamente que, la CSI, es muy eficaz para la determinación de un dieléctrico enterrado bajo una superficie rugosa conocida. Sin embargo, para una superficie desconocida, la aplicación del CSI a toda la región que contiene tanto el objeto como la rugosidad arrojará valores de propiedades dieléctricas significativamente inexactos y, por lo tanto, la determinación de los objetos será casi imposible, especialmente cuando son de tamaño pequeño o de bajo contraste. Por lo tanto, proponemos construir un modelo de referencia para el fondo sin el objeto mediante la obtención de imágenes previas de toda la región en un esquema de salto de frecuencia y la imposición de los valores de propiedades conocidos a priori a la morfología aproximadamente determinada del fondo. En la segunda etapa, la CSI se realiza en una sola frecuencia, asumiendo el modelo de referencia construido como fondo. En este caso, aprovechando la ventaja de la inversión no lineal y sin una suposición restrictiva sobre las características de la superficie rugosa, el enfoque propuesto arroja resultados cualitativamente satisfactorios incluso para múltiples objetos enterrados bajo una superficie que tiene una alta frecuencia o una gran rugosidad.

• Materias:Propagación de ondas Electromagnetismo Redes de telecomunicaciones Radiofrecuencia Teoría de Antenas
• Subjects:Wave propagation Electromagnetism Telecommunications networks Radio frequency Antenna theory
• Palabras claves:superficie rugosa, csi, región completa, valor de la propiedad dieléctrica, rendimiento del enfoque propuesto, modelo de referencia construido, procedimientos de obtención de imágenes por microondas, superficie rugosa conocida, fondo, determinación del objeto
• Keywords:rough surface, csi, entire region, dielectric property value, proposed approach yield, constructed reference model, microwave imaging procedures, known rough surface, background, determination of object