Resumen

Las técnicas hifenadas, que proporcionan información integral en varios aspectos como constituyente, estructura, grupo funcional y morfología, desempeñan un papel importante en la investigación científica. En la actualidad, el acoplamiento de la caracterización en la misma posición a microescala es de gran necesidad en el campo de la investigación y exploración de nanomateriales. En este artículo, se desarrolló una nueva técnica hifenada para facilitar la caracterización conjunta del microscopio de fuerza atómica (AFM) y el microscopio electrónico de barrido (SEM) mediante el diseño de un sistema de posicionamiento universal. El sistema consistía en un soporte de muestra con rejillas de coordenadas y un software para convertir los valores de coordenadas del mismo punto para que se ajusten al SEM, al soporte de muestra y al sistema AFM. En condiciones de trabajo, las coordenadas de los puntos etiquetados y la posición objetivo se extrajeron primero del software de operación del SEM, luego se convirtieron en valores numéricos adaptados al soporte de muestra en sí mismo, y finalmente se transformaron

• Materias:Matriz de nanotubos Corrosión del acero Reciclaje termoquímico Escaneo láser Microscopio electrónico
• Subjects:Nanotube Matrix Corrosion of steel Thermochemical Recycling Laser scanning Electron microscopy
• Palabras claves:Técnicas; Información; Caracterización; Acoplamiento; Nanomaterial; Guión
• Keywords:Techniques; Information; Characterization; Coupling; Nanomaterial; Hyphenated