Capacidad del test basado en análisis de transitorio para detectar fallas paramétricas

Ability of transient analysis method for detecting parametric faults

En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Método de Análisis de Transitorio para la detección de fallas paramétricas . Estas fallas son definidas como violaciones en las especificaciones de un circuito debido a desviaciones estadísticas en los componentes. Consecuentemente, el circuito es declarado como defectuoso si al menos una de las especificaciones está más allá de los límites tolerables. Un filtro de segundo orden se adopta como caso de estudio para la realización de las evaluaciones propuestas. Las especificaciones son establecidas sobre los parámetros de desempeño y los atributos de test son el tiempo de pico y la sobre elongación de la respuesta transitoria.

Para determinar la calidad del test , son generadas 8 poblaciones de 1.000 individuos. Cada individuo es obtenido asignando un valor aleatorio para sus componentes. Las poblaciones son obtenidas mediante el incremento de la variabilidad de los componentes, desde 3% hasta 10% en pasos de 1%. La evaluación concurrente de las especificaciones y de los parámetros de test permite establecer las métricas utilizadas para calificar al test. Los resultados de simulación permiten concluir que mediante la medición de los atributos de test propuestos es posible lograr un alto número de buenas decisiones de test . Adicionalmente, es posible observar que la capacidad de detección de circuitos buenos es también elevada. A pesar de estos hechos, el número de circuitos defectuosos que pasan el test podría ser inaceptable para aplicaciones que demanden una alta cobertura de fallas.

INTRODUCCIÓN

Los procesos de test constituyen en la actualidad una fase fundamental en la fabricación de circuitos o sistemas electrónicos. La aplicación del test encuentra su fundamento en los inevitables errores o desviaciones en los parámetros del proceso de producción que inducen fallas en los productos, haciendo que no cumplan la función para la que han sido concebidos. Un proceso de alta calidad debe detectar lo más tempranamente posible estas partes defectuosas y evitar que las mismas lleguen al consumidor o usuario final. Las metodologías de test están orientadas a la detección y descarte de los componentes o sistemas que no cumplan con las especificaciones de diseño.

Sin embargo, este no es el único objetivo del proceso de test de sistemas electrónicos. Otra meta tan importante como la anterior es la de generar información sobre la marcha del proceso de producción para optimizar su rendimiento, pretendiéndose la disminución de la cantidad de partes rechazadas. Frecuentemente, los procedimientos en cuestión también se utilizan para la clasificación de dispositivos según el desempeño que presenten.