Precisión
Metrología
Metrology Benchmarking of 3D Scanning Sensors Using a Ceramic GD&T-Based Artefact
Evaluación comparativa metrológica de sensores de escaneado 3D mediante un artefacto cerámico basado en GD&T.
El uso de equipos de escaneado sin contacto en metrología y en aplicaciones de inspección dimensional y geométrica está aumentando debido a su facilidad de uso, la velocidad y los costes actuales. Sin embargo, la transferencia prevista requiere acciones que garanticen la precisión alcanzable mediante la trazabilidad de las mediciones. En este estudio se realiza una comparación entre dispositivos y se diseña un artefacto estándar específico (GD&T) que permite una amplia variedad de dimensiones y tolerancia geométrica. La metodología de evaluación maximiza la precisión de cada dispositivo gracias a las características en términos de dimensiones, control de variables y distribución espacial. Los autores resaltan que, de este proceso se obtienen mediciones fiables de la precisión máxima alcanzable de cada dispositivo.
Este artículo fue realizado por Eduardo Cuesta, Víctor Meana, Braulio J. Álvarez (University of Oviedo, Gijón, Spain), Sara Giganto, Susana Martínez-Pellitero (University of León, León, Spain) para Sensors (Vol 22, núm 22, p. 8596, 2022), una revista que divulga artículo relacionados con la ciencia y la tecnología de los sensores. Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
Advances in Microwave Large-Signal Metrology: From Vector-Receiver Load-Pull to Vector Signal Network Analyzer and Time-Domain Load-Pull Implementations
Avances en metrología de grandes señales de microondas.
Los amplificadores de potencia (PA) de radiofrecuencia (RF) son elementos importantes de los sistemas de comunicación modernos. El diseño y optimización de los amplificadores de potencia son tareas complejas que requieren la máxima precisión en las mediciones a gran escala tanto en el dispositivo utilizado para tal fin, como en el circuito. Así mismo, la caracterización de transistores de potencia de gran señal requieren de desarrollo de sistemas de tracción de carga alta y baja frecuencia para garantizar el resultado de las mediciones. Este artículo tiene como objetivo hacer una revisión sobre los logros en términos de investigación en el campo de la metrología de microondas de gran señal.
Este artículo fue realizado por J. Apolinar Reynoso-Hernández, Manuel Alejandro Pulido-Gaytan (Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Ensenada, Mexico), Thaimí Niubó-Alemán (Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Ensenada, Mexico; The Ohio State University, Columbus, OH 43210, USA), Marlon Molina-Ceseña (Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Ensenada, Mexico) para Electronics (Vol. 11, núm 7, p. 1114, 2022), una revista que divulga investigaciones relacionadas con la ciencia de la electrónica y sus aplicaciones . Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
- Video:Microgenómica 2021: Apoyo a las mediciones microgenómicas en medicina de precisión mediante PCR digital
- Fuente:The International Symposium on Microgenomics 2023
