Calibración
Metrología
- Video:Navegación por los certificados de calibración ISO 17025:2017
- Fuente:Masy BioServices
Calibration Model Optimization for Strain Metrology of Equal Strength Beams Using Deflection Measurements
Optimización del modelo de calibración para la metrología de deformación de vigas de igual resistencia mediante mediciones de deflexión.
Los sensores de deformación, especialmente los sensores de fibra con rejilla de Bragg (FBG), son de gran importancia en la supervisión de la salud estructural y el análisis de propiedades mecánicas. El modelo tradicional de calibración de la deformación mediante vigas de igual resistencia se basa en un método de aproximación mediante la teoría de pequeñas deformaciones. Sin embargo, la precisión de la medición disminuye cuando las vigas están sometidas a grandes deformaciones o a altas temperaturas. En este artículo se desarrolla un modelo de calibración de deformación optimizado, combinando los parámetros estructurales y el método de análisis de elementos finitos, introduciendo un coeficiente de corrección para obtener una formula de optimización precisa. Los resultados muestran que el modelo puede aplicarse con éxito en condiciones de gran deformación logrando que la precisión de la medición se mejore significativamente.
Este artículo fue realizado por Yonggang Yan (Henan Polytechnic University, Jiaozuo, China), Zhengxing Wu (Henan Polytechnic University, Jiaozuo, China; National Institute of Metrology, Beijing, China), Jianjun Cui (National Institute of Metrology, Beijing, China; Metrology and Testing Institute of Tibet Autonomous Region, Lhasa, China), Kai Chen (National Institute of Metrology, Beijing, China), Yanhong Tang (Shaanxi Institute of Metrology Science, Xi’an, China), Ning Yang (Shaanxi Institute of Metrology Science, Xi’an 710100, China) para Sensors (Vol 23, núm 6, p. 3059, 2023), una revista que divulga artículo relacionados con la ciencia y la tecnología de los sensores. Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
Calibration of Stereo Pairs Using Speckle Metrology
Calibración de pares estereoscópicos mediante metrología espectral.
La precisión de la reconstrucción 3D para aplicaciones de metrología mediante pares estereoscópicos activos depende de la calidad de la calibración del sistema. En este artículo se presenta una propuesta de calibración basada en la metrología espectral que permite separar la traslación y la rotación en la estimación de parámetros extrínsecos. Para lograr esta calibración, se introduce un dispositivo denominado Fuentes de Espectros casi Puntuales (APPS) y se describe un método minucioso de los parámetros de los pares estereoscópicos. Los resultados obtenidos con un sistema estereoscópico demostraron que la calibración espectral alcanza un mejor rendimiento de reconstrucción que los métodos estándar.
Este artículo fue realizado por Éric Samson, Denis Laurendeau, Marc Parizeau (Université Laval, Quebec City, Canada) para Sensors (Vol 22, núm 5, p. 1784, 2022), una revista que divulga artículo relacionados con la ciencia y la tecnología de los sensores. Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
