Tecnologías para sistemas de medición
Metrología
Esta sección está dedicada a presentar los avances en las tecnologías de de los sistemas de medición que incluyen la nanotecnología, desarrollo de software e impresión 3D.
- Video:El papel de la metrología en la mejora de la reproducibilidad
- Fuente:UK Reproducibility Network
Metrological Protocols for Reaching Reliable and SI-Traceable Size Results for Multi-Modal and Complexly Shaped Reference Nanoparticles
Protocolos metrológicos para obtener resultados de tamaño fiables y trazables para nanopartículas de referencia multimodales y de formas complejas
Este artículo se realizó en el marco del proyecto europeo nPSize (programa EMPIR) con el objetivo principal de proponer al mercado nuevos nanomateriales certificados de referencia para mejorar la fiabilidad y trazabilidad de las mediciones del tamaño de las nanopartículas. Se sintetizaron poblaciones bimodales, nanopartículas de formas complejas con el fin de hacer una comparación entre los laboratorios y cotejar las mediciones de tamaño de las muestras de nanopartículas seleccionadas. Los resultados muestran una buena coherencia del tamaño medido por las distintas técnicas, cuidado en la preparación de las muestras, la calibración de los instrumentos y la definición de la medición.
Este artículo fue realizado por Nicolas Feltin, Loïc Crouzier, Alexandra Delvallée (Laboratoire National de Métrologie et d’Essais (LNE), Trappes, France), Francesco Pellegrino, Valter Maurino (University of Torino, Torino, Italy), Dorota Bartczak, Heidi Goenaga-Infante (LGC Limited, LY, UK), Olivier Taché, Sylvie Marguet, Fabienne Testard (Université Paris-Saclay, Gif-sur-Yvette, France), Sébastien Artous, François Saint-Antonin (Université Grenoble Alpes, Grenoble, France), Christoph Salzmann (Federal Institute for Materials Research and Testing (BAM), Berlin, Germany), Jérôme Deumer, Christian Gollwitzer (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Berlin, Germany), Richard Koops (VSL National Metrology Institute, Delft, The Netherlands), Noham Sebaïhi (FPS Economy, Brussels, Belgium), Richard Fontanges (Pollen Metrology, Moirans, France), Matthias Neuwirth, Detlef Bergmann, Dorothee Hüser, Tobias Klein (Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, Germany), Vasile-Dan Hodoroaba (Federal Institute for Materials Research and Testing (BAM), Berlin, Germany) para Nanomaterials (Vol. 13, núm 6, p. 993, 2023), una revista que divulga trabajos de investigación relevantes para cualquier campo de estudio que involucre a los nanomateriales, su ciencia y aplicaciones. Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
A Measurement System with High Precision and Large Range for Structured Surface Metrology Based on Atomic Force Microscope
Sistema de medición de alta precisión y gran alcance para metrología de superficies estructuradas basado en el microscopio de fuerza atómica
Con el rápido y continuo desarrollo de la tecnología de nanofabricación, las demandas de metrología de gran alcance y alta precisión de superficies estructuradas son cada vez más urgentes. En este artículo, los autores proponen un sistema de medición metrológica basado en un microscopio de fuerza atómica comercial. Además, se presenta la integración del sistema metrológico, el procesamiento de señales y la calibración de todo el sistema. Los resultados de tres estudios experimentales sobre un escalón alto, una rejilla de deposición atómica y una herramienta de corte demuestran una elevada repetibilidad y reproducibilidad de las mediciones tanto en dirección vertical como lateral.
Este artículo fue realizado por Junjie Wu, Xiaoyu Cai, Jiasi Wei (Shanghai Institute of Measurement and Testing Technology, Shanghai 201203, China), Chen Wang (Shanghai University, Shanghai, China), Yong Zhou, Kaixin Sun (Shanghai Jice Information Technology Co., Ltd., Shanghai, China) para Photonics (Vol 10, núm 3, p. 289, 2023), una revista que divulga trabajos de investigación sobre las aplicaciones de la óptica y la fotónica. Esta es una publicación de MDPI, una plataforma de revistas científicas de acceso abierto operada por MDPI Verein (Basilea, Suiza). Correo de contacto: [email protected]
